SN74BCT8240ADWR
![chất lượng [#varpname#] nhà máy sản xuất](/images/load_icon.gif){kind=icon}
nhà sản xuất:
Texas Instruments
Mô tả:
Thiết bị thử IC SCAN BUFF 24-SOIC
Nhóm:
Hợp lý
Thông số kỹ thuật
Nhóm:
Mạch tích hợp (IC) Logic Logic chuyên biệt
Số bit:
số 8
Tình trạng sản phẩm:
Bị lỗi thời
Loại lắp đặt:
Mặt đất
Gói:
Dây băng và cuộn (TR)
Dòng:
74BCT
Loại logic:
Quét thiết bị kiểm tra với bộ đệm đảo ngược
Bao gồm thiết bị của nhà cung cấp:
24-SOIC
Mfr:
Texas Instruments
Nhiệt độ hoạt động:
0°C ~ 70°C
Cung cấp hiệu điện thế:
4,5V ~ 5,5V
Bao bì / Vỏ:
24-SOIC (0,295", Chiều rộng 7,50mm)
Số sản phẩm cơ bản:
74BCT8240
Lời giới thiệu
Thiết bị thử nghiệm quét với bộ đệm đảo ngược IC 24-SOIC
Gửi RFQ
Sở hữu:
MOQ: